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TDD模式切换时间

TDD模式切换时间

 

AD9361中有些模式可用于TDD应用,为手头的应用选择最有效的模式是相当重要的。用户指南的ENSM和PLL部分还描述了TDD切换。ENSM指南则针对控制ENSM和LO,说明了SPI和引脚控制方法。

 

一些影响AD9361在Rx与Tx之间相互切换速度的因素包括:

 

  • RF VCO校准持续时间,其取决于经调整的参考时钟频率。如PLL用户指南中所述,频率越高,校准时间会更快。该时间始终会超过37 us。
  • RF PLL锁定时间,约15 us,与时钟速率无关。
  • Rx和Tx清空位,如ENSM用户指南中所述,取决于ADC时钟。
  • x DAC上电时间,约18 us,与配置无关,当切换至Tx状态时,仅影响切换时间。
  • 信号路径延迟,取决于时钟速率和滤波器配置,该取值可能差异很大。必须相适应,所以没有在以下的方法中详述。

Rx切换至Tx或Tx切换至Rx的最大切换时间因下述各模式而不同。了解应用允许的最大时间有助于确定最佳选项。

 

  • 标准ENSM TDD模式: ENSM在其各状态间切换时会进行VCO校准;当Rx PLL解锁时,无法进入Rx状态。同样也适用于Tx状态和Tx PLL。校准后,PLL锁定。也需要Tx DAC上电时间(如果切换至Tx)和刷新时间,但是这些与PLL开关同时发生。标准ENSM TDD模式通常由VCO校准时间决定。
  • 标准TDD模式/无VCO校准: 该选项使用TDD ENSM模式,但当ENSM切换状态时,不允许RF VCO校准。 为了确保PLL不会在将来某个时刻解锁,应使用最精确的模式在初始化期间校准VCO,并且VCO应使能温度补偿,两者均用于FDD模式。因此,AD9361会如同选用FDD模式一样进行初始化。初始化结束时,ENSM会切换至TDD模式,并且通过将0x230和0x270的D0位设置为高,来禁用VCO校准。该方法的时间较以上采用VCO校准时间的方法会更短。
  • 标准TDD模式/双合成: 在这种情况下,双合成位置位,使能两个PLL,并消除了PLL锁定时间(和VCO校准)。当Tx DAC切换至Tx状态,其仍需上电,并且仍需刷新时间。与上述方法类似,AD9361应如同选用FDD模式一样进行初始化。不需要禁用VCO校准。
  • FDD独立模式:该配置如选用常规FDD模式一样对AD9361进行校准,但允许独自使能和禁用Rx和Tx路径,因此Rx和Tx数据路径的时序不受限制。ENSM用户指南详述了该操作和所用信号。ENSM不会改变状态,所以数字路径不会清空。然而,Tx DAC仍需随Tx信号路径的其余部分上电和关断。
  • 标准FDD模式使能两个LO两个数据路径。由于Tx路径处于常开,LO泄漏可以通过外部开关或双工器反馈进入接收器,这会造成性能降低。只有在没有ENSM TDD模式可用,并且基带处理器控制信号没有足够的灵活性来使用FDD独立模式时,才使用该模式。
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