使用AD9361进行LTE产品开发，在进行产品的高低温循环测试时，发现射频的中心频点出现严重漂移导致无线链路中断，详见附件图片（1795M正常.jpg 和 1795M异常.jpg，中心频点偏移大于1MHz）。
1795M正常.jpg
1795M异常.jpg（图中纵向一格约3MHz，图中中心频点至少偏移了1.4MHz）
在射频正常和异常时测试测试ADI芯片输入的19.2M 恒温晶振，19.2M晶振频率输出正常，频率偏差小于4Hz；
设备重新启动（重新进行ADI配置后），ADI输出的中心频点恢复正常；
实际测试，温度有低变高，中心频点正偏；温度有高变低，中心频点负偏
问题：在正常使用过程中，温度变化特别是温度快速变化；ADI的中心频点该如何试试矫正？
