AD9287低温采样噪声问题?请帮忙

hi ADI专家,

signal chian: analog input-<AFE-<AD8334-<AD9287-100-<Xilinx FPGA.

Clock input:epson100M crystal oscillator from TI CDCV304 clock buffer.

1.8V analog and digital power all from TI TPS5430, analog and digital are from one supply connect bead between them.

问题条件描述:

1.产品在低温-10℃储存的情况下一小时(此时产品不上电),开机后,ADC采样波形底噪和毛刺明显,异常。大约8-10分钟热机后,异常消除。

2. 检查Clock和电源情况在异常的情况下并没有异常,AFE并无输入,也没有异常。

分析:

1.考虑到ADC和FPGA的功耗并不低(在常温板子有明显的热量),是不是在低温热机一会儿就正常,芯片低温问题?更换芯片后,有些可以好,有些还是不行。

2. 修改PIN40 电阻?10K 到1K,异常消除,此时IC功耗增大,手册中并没有对此说明,是否可以调整?是什么原因异常可以调整消除。

请分析下异常发生的原因,多谢!

  • 首先,噪底在低温储存后增大了多少,  是否可能是外围器件引起的误差,比如clock,或者电阻电容的值发生变化

    实际上如果想要定位问题出在什么地方, 需要对关心的芯片进行低温测量,其他元器件保持在常温状态

  • 谢谢。

    我们检查了时钟,模拟前端,电源均为发现问题。噪声不是增大,而是完全异常。

    ADC连接时钟,电源和FPGA,这些我没办法切断,前端我已经断掉,但是ADC不好单独工作在低温中!请指教

    能分析下这个解决办法吗?感谢

    2. 修改PIN40 电阻?10K 到1K,异常消除,此时IC功耗增大,手册中并没有对此说明,是否可以调整?是什么原因异常可以调整消除。

  • 芯片的手册中没有关于PIN40电阻调整后的的效果说明,如果不能逐级的低温检查,无法查找何处器件出现了故障,

    此外,你再检查时钟, AFE 以及电源的过程中,是在低温情况测试的还是常温测试的

    除了以上的部分, 地上的噪声是否很大