AD7327采样值与实际值有偏差
AD7327采样值与实际值有偏差
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Jackie Wang - Moved from Other Products (CN) to 精密转换器专区. Post date updated from Wednesday, June 5, 2024 8:55 AM UTC to Wednesday, June 5, 2024 9:46 AM UTC to reflect the move.
这个芯片的失调误差达到30多LSB,失调校正的办法是什么??是内部程序校正还是测试采样值减去失调值
这个零点误差页太大了吧,是不是电路干扰的原因
当然,30多lsb肯定过大了,按手册规格来说没这么大,个位数才正常吧。过大的offst还可能和您的测量方式,电源供电和基准的性能有关。
你现在的输入是什么模式?单端,全差分,伪差分,如果是差分输入模式,你测offst,直接输入短接就行,先不接地看下。
输入使用的是单端模式,使用的是内部基准电源,电源是正负12V,Vdrive是5V电源,测试没有问题啊
没看到你ADC输入前级包括滤波器的设计,G1这些到芯片的10k欧电阻也比较大,漏流和偏置电流在10kΩ上产生的误差电压可能是导致失调误差大的原因。这么大的失调误差,应该和你的电路设计有关。
ADC输入前级加的有跟随器,滤波电路。我还发现使用不同的测试范围,AD7327_CH0_10V_10V与AD7327_CH0_5V_5V失调误差都是一样的,怎么回事,有点不像失调误差,是什么原因??不使用的VIN口,直接接G1或接10K电阻到G1,测试结果是一样的
那你现在电路除了失调有误差,你用过它去测一些输入电压值了吗?测量一些不同大小的输入电压值时结果还算准确吗?
测量一些不同大小的输入电压值时结果中都有一个失调误差,如果补偿失调误差,测试结果还算准确
那你在程序上校正掉就行了,你要改电路还很麻烦。你说的“我还发现使用不同的测试范围,AD7327_CH0_10V_10V与AD7327_CH0_5V_5V失调误差都是一样的,怎么回事,有点不像失调误差,是什么原因??不使用的VIN口,直接接G1或接10K电阻到G1,测试结果是一样的”
这个就是正常的。ADC不同输入范围,它实际的范围切换很多是靠调节内部增益来实现的,但是增益同时也是会被作用到失调误差的放大和缩小上,但是失调表现出来的码值,不管什么范围下基本都是一致的呀,我简单举个下图例子,所有三个范围,失调电压的实际出处码值都是1。但你转换成实际电压可以不一样呀,毕竟不同范围lsb代表的电压值不一样。
程序校正会比较简单,当然你芯片现在失调这么大一般也不是芯片自身的缺陷,大部分是电路的不良设计造成的。想从硬件层面就减少失调,那要修改你的电路设计。
我的这个电路设置该如何从硬件层面就减少失调??输入前级也有滤波器设计,我直接将CHA接到G1上,失调值还是一样,不使用的VIN口,直接接G1或接10K电阻到G1测试是一样的
那你的前级跟随呢,滤波结构呢,我从图中是没看出来。我没法很好理解你电路的具体的测量方法。我看CHA是直连ADC的,且没看到其它任何特别的连接。
整个电路设计的优化和改进,我很难用几句话给你讲那么清楚。但是ADI有官方的设计参考。请你参考官方设计并以此检查自己的设计,我觉得也是一种方法。链接贴在这里了,EVAL-AD7327 Evaluation Board | Analog Devices
那你的前级跟随呢,滤波结构呢,我从图中是没看出来。我没法很好理解你电路的具体的测量方法。我看CHA是直连ADC的,且没看到其它任何特别的连接。
整个电路设计的优化和改进,我很难用几句话给你讲那么清楚。但是ADI有官方的设计参考。请你参考官方设计并以此检查自己的设计,我觉得也是一种方法。链接贴在这里了,EVAL-AD7327 Evaluation Board | Analog Devices