AD7327通道0输入接地，采样值转换不为0

这个芯片的失调误差达到30多LSB，失调校正的办法是什么？？是内部程序校正还是测试采样值减去失调值

这个零点误差页太大了吧，是不是电路干扰的原因

当然，30多lsb肯定过大了，按手册规格来说没这么大，个位数才正常吧。过大的offst还可能和您的测量方式，电源供电和基准的性能有关。

你现在的输入是什么模式？单端，全差分，伪差分，如果是差分输入模式，你测offst，直接输入短接就行，先不接地看下。

输入使用的是单端模式，使用的是内部基准电源，电源是正负12V，Vdrive是5V电源，测试没有问题啊

没看到你ADC输入前级包括滤波器的设计，G1这些到芯片的10k欧电阻也比较大，漏流和偏置电流在10kΩ上产生的误差电压可能是导致失调误差大的原因。这么大的失调误差，应该和你的电路设计有关。

ADC输入前级加的有跟随器，滤波电路。我还发现使用不同的测试范围，AD7327_CH0_10V_10V与AD7327_CH0_5V_5V失调误差都是一样的，怎么回事，有点不像失调误差,是什么原因？？不使用的VIN口，直接接G1或接10K电阻到G1，测试结果是一样的

那你现在电路除了失调有误差，你用过它去测一些输入电压值了吗？测量一些不同大小的输入电压值时结果还算准确吗？

那你现在电路除了失调有误差，你用过它去测一些输入电压值了吗？测量一些不同大小的输入电压值时结果还算准确吗？

测量一些不同大小的输入电压值时结果中都有一个失调误差，如果补偿失调误差，测试结果还算准确

那你在程序上校正掉就行了，你要改电路还很麻烦。你说的“我还发现使用不同的测试范围，AD7327_CH0_10V_10V与AD7327_CH0_5V_5V失调误差都是一样的，怎么回事，有点不像失调误差,是什么原因？？不使用的VIN口，直接接G1或接10K电阻到G1，测试结果是一样的”

这个就是正常的。ADC不同输入范围，它实际的范围切换很多是靠调节内部增益来实现的，但是增益同时也是会被作用到失调误差的放大和缩小上，但是失调表现出来的码值，不管什么范围下基本都是一致的呀，我简单举个下图例子，所有三个范围，失调电压的实际出处码值都是1。但你转换成实际电压可以不一样呀，毕竟不同范围lsb代表的电压值不一样。

程序校正会比较简单，当然你芯片现在失调这么大一般也不是芯片自身的缺陷，大部分是电路的不良设计造成的。想从硬件层面就减少失调，那要修改你的电路设计。

我的这个电路设置该如何从硬件层面就减少失调？？输入前级也有滤波器设计，我直接将CHA接到G1上，失调值还是一样，不使用的VIN口，直接接G1或接10K电阻到G1测试是一样的

那你的前级跟随呢，滤波结构呢，我从图中是没看出来。我没法很好理解你电路的具体的测量方法。我看CHA是直连ADC的，且没看到其它任何特别的连接。

整个电路设计的优化和改进，我很难用几句话给你讲那么清楚。但是ADI有官方的设计参考。请你参考官方设计并以此检查自己的设计，我觉得也是一种方法。链接贴在这里了，EVAL-AD7327 Evaluation Board | Analog Devices

UG-419 (Rev. 0) (analog.com)