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ad7177短期稳定性差

您好,我在做一款采样验证板,板子经过最近一个月左右的测试,发现间隔几天后ad7177的采样值漂移比较大,比如在3.4v测试点,两天的测试结果偏差达到70μv。而8588的示数是没有变化的。

我的供电用的是avdd1=5v,avss接地,电压基准用的adr4550。ad7177所有缓冲器都没使用,滤波器使用sinc3,采样率5sps。

数据如下图,输入源使用5720,同时用8588八位半万用表做对比参考,板子的电压源使用是德的线性电源供电,输入电源误差在带载情况下小于0.8mv。

Parents
  • 你好,ADC的采样结果漂移,一般主要是来自于两个因素,时漂和温漂。就您的问题描述来看,您的问题中的偏移更多可能来自时漂。

    时漂通常不是ADC自身导致的,基本是来自基准的漂移,从ADR45xx系列的数据手册中看,其时间漂移在0到250小时变化的最大,占到总漂移里的大头,我就按20ppm,250小时算的话。70uV相当于跳了3万多个码吧,由基准adr4550在250个小时造成的20ppm漂移就会跳8.6万个码了。比你现在看到的漂移还大,这一个原因可能是你时间并没有达到250个小时,或者是你观察的时间段不是在上电初期的250个小时内。但是我主要想说的你现在观察到的漂移是并不是特别异常的现象,而是基准导致的,你想要更稳定的数据,那就要用更好的基准给,比如ltc6655,1khr的drift才20ppm.优于adr4550.更好的基准adi还有ltz1000,及其优秀的时漂参数。8588的基准我不知道用的是哪一个,但应该是好于adr4550,所以时漂才更好。

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  • 你好,ADC的采样结果漂移,一般主要是来自于两个因素,时漂和温漂。就您的问题描述来看,您的问题中的偏移更多可能来自时漂。

    时漂通常不是ADC自身导致的,基本是来自基准的漂移,从ADR45xx系列的数据手册中看,其时间漂移在0到250小时变化的最大,占到总漂移里的大头,我就按20ppm,250小时算的话。70uV相当于跳了3万多个码吧,由基准adr4550在250个小时造成的20ppm漂移就会跳8.6万个码了。比你现在看到的漂移还大,这一个原因可能是你时间并没有达到250个小时,或者是你观察的时间段不是在上电初期的250个小时内。但是我主要想说的你现在观察到的漂移是并不是特别异常的现象,而是基准导致的,你想要更稳定的数据,那就要用更好的基准给,比如ltc6655,1khr的drift才20ppm.优于adr4550.更好的基准adi还有ltz1000,及其优秀的时漂参数。8588的基准我不知道用的是哪一个,但应该是好于adr4550,所以时漂才更好。

Children
  • 感谢您的解答!我还有一个疑问,现在要改成双极性应用,根据AD7177-2数据手册,其供电电压压差最大为5.5V,因此需要把基准电压降低,这样效果会不会更好呢?打算使用电压基准芯片ADR4520或ADR4525,是否足够使用呢?因为LTC6655手里没有现货,ADR45xx在足够长的考核时间之后,漂移值应该会越来越小,ADC采样值应该也会趋于稳定吧?

  • 你之前的测试是基于单极性的?你现在想改双极性后,具体的对输入的要求是怎么样的。降低基准电压的输入在一些具体情况下是管用的,但是我对你的电路和应用还不是十分的了解,不能给出很明确的结论,但你可以测试看看。基准的漂移一般在初期比较明显,维持开机和上电时间长了以后会趋于稳定,但是必须是长时间维持上电工作的时间,不是用的越久衰减越稳定。一旦有掉电关机一段时间,后面的时漂又是从零开始了,这也是很多精密仪器开机后基本就一直长时间不关的原因。