对仪器外壳打静电,会导致AD7616采样异常,最终发现异常时,BUSY信号变成了500ns的尖峰毛刺信号,如下图所示。黄色的波形是正常的BUSY信号,蓝色的波形是出现异常时的BUSY信号。请问有什么方法能规避这种问题出现吗?
以前用的是AD7606,同样的布局方式,打任何干扰,没有出现过ADC BUSY信号异常的现象,是不是AD7616抗ESD性能比AD7606要差很多?
对仪器外壳打静电,会导致AD7616采样异常,最终发现异常时,BUSY信号变成了500ns的尖峰毛刺信号,如下图所示。黄色的波形是正常的BUSY信号,蓝色的波形是出现异常时的BUSY信号。请问有什么方法能规避这种问题出现吗?
以前用的是AD7606,同样的布局方式,打任何干扰,没有出现过ADC BUSY信号异常的现象,是不是AD7616抗ESD性能比AD7606要差很多?
我也遇到了相同的问题,在噪声较大的环境下看到BUSY信号出错,我利用BUSY信号为高作为出错的信号,抛弃一帧该更新数据,减少了出错。
但是同时我还发现AD7616的AB通道数据出错,比如AB数据交换,或者B的数据跟随了A的数据,此时没有任何出错标志,我能够确定这是AD7616输出的,而非驱动出错导致。
请问你最后如何解决问题呢?
我遇到了数据跟随的问题,如V1B通道的数据跟随V0B通道的数据,请问您现在解决了吗?
我遇到了数据跟随的问题,如V1B通道的数据跟随V0B通道的数据,请问您现在解决了吗?
解决了,我认真查看了我的硬件电路,发现16根数据线其中有两根接反了,第三根和第四根接反了,导致我的数据位第三位和第四位发生了交换