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ADuCM355的2线测温的时候DAC输出受工频干扰的问题

产品设计中采用的是2线测温的方法进行测量水质的温度,传感器采用的是PT100,温度采集的线10米左右。

1、两线测温的ADUCM355的接口为:DAC输出为CE0、温度测量的接口采用的是AIN1和AIN2.

2、DAC输出的CE0引脚受工频干扰(正常波形为1Vp-p 1Khz),采取如下三个方案:

    a、ADUCM内部开关N9接通,SE0短接地,此时波形只有正半波;但数值稳定,信号被压缩为一半

    b、 内部开关N9接通,SE0短接至vzero,则DAC输出完成正弦波无干扰,但峰峰压缩至0.9倍,ADC值稳定。

    c、 内部开关N4接通,AIN3短接至VREF_1.8V,则DAC输出完成正弦波无干扰,但峰峰压缩至0.9倍,ADC值稳定。

   总结:内部运放的N脚需要一个合适的电压值才能消除工频干扰,

问题,如上,内部运放的N脚需要进行如何配置才能消除此问题或者是有没有比规格书中更加详细的内部结构原理图

Parents
  • 如果光RTD测温没有必要选择ADuCM355,用MAX31865就足够了,这个IC是有抗工频干扰的寄存器配置的。是还要测量水质的PH、浊度等参数么?

  • 是的,这个产品主要是小型化设计的,ADuCM355还用于测试水质的中的电导率的,RTD的温度是其中一个功能,目前RTD的2线、3线、4线都出现同样的干扰,都是在DAC输出的CE0由工频干扰;目前调试的结果如下

    1、内部运放的N脚接一个固定电压值,工频干扰会消失,但是输出的DAC的值由异常

    2、另一个就是 内部开关N4导通,AIN3短接至VREF_1.8V,采集板正常工作一段时间后,采集的温度缓慢上升,一直上升到100℃(限制值),即采集的温度会一直升高,测试及环境正常情况下。

    大概的配置如下:

    EC SW     N=AIN3=1.8V/Vzero

            SWMatrix_InitStructure.Dswitch = SWD_CE0; // SWD_RCAL0;//

            SWMatrix_InitStructure.Pswitch = SWP_CE0; // SWD_RCAL0;//

            SWMatrix_InitStructure.Nswitch = SWN_AIN3;

    //SWN_SE0;//

            SWMatrix_InitStructure.Tswitch = SWT_OPEN;

    如上,需要请教的问题如下:

    1、请问要如何配置此ADuCM355抗工频干扰的寄存器,

    2、有没有其他方式可以消除此工频干扰,

    3、此内部运放的N端有没有更加详细的内部原理框图或者是配置上的要求

  • 1、尽量采用带屏蔽线的RTD,从源头控制

    2、建议在固件中,读取数字信号之后在软件上加一个数字的陷波滤波器

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