ADI双光束分光光度计相关方案，你知道多少？

ADI_Amy

on Dec 17, 2015

这是第二篇有关分光光度计应用的文章。在第一篇文章中——ADI双光束分光光度计解决方案（http://www.analog.com/media/cn/technical-documentation/apm-pdf/adi-dbs-solutions_cn.pdf），我们讨论了应用、工作原理、电路架构和设计考虑因素。本文将介绍ADI公司的相关新演示系统和产品。

下载ADI灵活全面的系统解决方案及主要产品简介请点击：http://www.analog.com/cn/design-center/landing-pages/002/apm/dbs-solution-2013.html#intro

系统设计考虑因素

稳定性

在分光光度计的设计中，随时间和温度的漂移是非常重要的考虑因素。为了实现这一目标，需要低漂移的精确信号链，这正是ADI公司的长处。除元件外，双光束架构同样也是重要的因素。

ADI公司新演示系统

CN-0363：带可编程增益跨阻放大器和数字同步检波功能的双通道色度计

下图所示电路是一款双通道色度计，其具有一个调制光源发射器，各通道上有可编程增益跨阻放大器，后接一个噪声非常低的24位Σ-Δ型模数转换器(ADC)。ADC的输出连接到一个标准FPGA夹层卡。FPGA从ADC获得采样数据，实现一个同步检波算法。通过使用调制光和数字同步检波而非恒流(直流)源，系统可有力地抑制非调制频率的噪声源，提供出色的精度。

ADI公司新产品

ADA4350：带有ADC驱动器的FET输入模拟前端，适用于光电二极管应用中的电流检测

ADA4350是用于光电监测器或其它传感器的模拟前端，此传感器输出电流与检测的参数或电压输入成比例，系统要求用户在不同精密增益之间做出选择，从而使其动态范围达到最大。ADA4350集成了FET输入放大器、切换网络和ADC驱动器，所有功能均可通过串行外设接口(SPI)或-并行控制逻辑控制，这些所有功能均在一个IC中。FET输入放大器具有极低的电压噪声和电流噪声，极其适合各种光电检测器、传感器或精密数据采集系统。